高溫試驗目的

高溫試驗的目的是確定元件、設備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。高溫試驗能引發(fā)產(chǎn)品哪些故障

功能失效：系統(tǒng)宕機、重啟、信號錯誤。

性能降級：運行速度變慢、輸出功率下降、信號失真。

物理損壞：

塑料外殼軟化、變形、熔化；

液晶顯示屏變黑、出現(xiàn)殘影；

電池鼓包、漏液，甚至有起火風險；

 焊點融化或開裂；

元器件脫焊、損壞。

高溫試驗測試參數(shù)

高溫試驗應規(guī)定相應的試驗溫度和試驗持續(xù)時間，試驗溫度和試驗持續(xù)時間從下列數(shù)值中選取：

（1）試驗溫度：+30 ℃、+35 ℃、+40 ℃、+50 ℃、+55 ℃、+60 ℃、+65 ℃、+70 ℃、+85 ℃、+100 ℃、+125 ℃、+155 ℃、+175 ℃、+200 ℃、+250 ℃、+315 ℃、+400 ℃、+500 ℃、630 ℃、+800 ℃、+1000 ℃。

（2）持續(xù)時間：2 h、16 h、72 h、96 h、168 h、240 h、336 h、1000 h。

4、高溫試驗測試項目

(高溫啟動試驗

受試產(chǎn)品在溫度開始穩(wěn)定后對受試產(chǎn)品進行通電工作并運行正常。

示例：受試產(chǎn)品在+50℃條件下穩(wěn)定2小時后，上電工作2小時，試驗箱恢復至常溫+25℃保持1小時，試驗期間的溫度變化速率為1℃/min。

高溫工作試驗

受試產(chǎn)品在整個低溫試驗期間連續(xù)通電工作并運行正常。

示例：受試產(chǎn)品在+50℃條件下，連續(xù)通電工作運行4小時,試驗期間的溫度變化速率為1℃/min。

高溫貯存試驗

受試產(chǎn)品在試驗期間不通電，試驗結束后通電測試功能。

示例：受試產(chǎn)品在+50℃條件下，斷電貯存24小時，試驗期間的溫度變化速率為1℃/min。

高溫試驗檢測結果判定

試驗期間或試驗后，受試產(chǎn)品功能性能是否發(fā)生改變，受試產(chǎn)品外觀是否發(fā)生異常。

高溫試驗基礎標準

GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》。

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